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半導體測試探針的的原理
- 分類:公司新聞
- 作者:
- 來源:
- 發布時間:2021-03-04 10:54
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【概要描述】半導體測試探針(高頻探針)主要應用于BGA芯片測試,微型BGA原件,測試架,手機,電腦,通信等;其應用評率為500MHz,測試中所采用的針的數量根據具體的BGAIC與其治具的規格不同而不同,測試治具的間距有0.4/0.5/0.65/0.75/1.0/1.27/2/2.54MM不等。????半導體測試探針(高頻針)主要應用行業如:手機、電腦、通信等。主要芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行,
半導體測試探針的的原理
【概要描述】半導體測試探針(高頻探針)主要應用于BGA芯片測試,微型BGA原件,測試架,手機,電腦,通信等;其應用評率為500MHz,測試中所采用的針的數量根據具體的BGAIC與其治具的規格不同而不同,測試治具的間距有0.4/0.5/0.65/0.75/1.0/1.27/2/2.54MM不等。????半導體測試探針(高頻針)主要應用行業如:手機、電腦、通信等。主要芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行,
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- 發布時間:2021-03-04 10:54
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半導體測試探針(高頻探針)主要應用于BGA芯片測試,微型BGA原件,測試架,手機,電腦,通信等;其應用評率為500MHz,測試中所采用的針的數量根據具體的BGA IC 與其治具的規格不同而不同, 測試治具的間距有0.4/0.5/0.65/0.75/1.0/1.27/2/2.54MM不等。
半導體測試探針(高頻針)主要應用行業如:手機、電腦、通信等。主要芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行,主要需求量最大需芯片封裝測試行業。
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